半导体测试新基石：为什么高精度测量离不开Linux工控机
探讨半导体测试中高精度测量数据处理的挑战。本文深度解析Linux工控机如何以其卓越的稳定性、实时性与开源灵活性，解决Windows系统瓶颈，确保测试数据精准可靠，最终提升芯片良率与生产效率。
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探索Ubuntu AI质检工控机如何利用高分辨率相机与NPU，实现半导体晶圆微观缺陷的高速、高精度智能识别，助力芯片制造降本增效。
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